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石英晶体元器件检测和试验标准
                                         发布日期:2008-7-14   点 击 数:7118 

    SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分,频率和谐振电阻测量
 
    SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数  第二部分,相位偏置法测量动态电容
 
    SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π网络零相位法测量石英晶体元件参数  第三部分,利用有并电容C0补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的测量方法
 
    SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶体元件参数测量  第6部分  激励电平相关性(DLD) 测量
 
    IEC68-2   环境试验   第二部分  各种试验
 
    GB2423   电工电子产品环境试验标准
 
    GJB360A-1996(MIL-STD-202F)电子及电气元件试验方法
 
    MIL-STD-883 微电子器件试验方法和程序
 
 
 
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